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紫外光电子能谱(UPS)
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紫外光电子能谱(UPS)

2019-01-05 15:38:51
适用领域
在金属、玻璃、高分子、半导体、纳米材料、生物材料以及催化等领域有广泛应用
样品要求
1)     粉末样品:需要10mg以上的干燥的粉末样品

2)     固体样品:任一边长不大于1cm,厚度不超过2mm

3)     液体样品:易干燥,需要收取制样费用

4)     注意标注:样品有无磁性、毒性、挥发性、腐蚀性、放射性等信息
 
收费标准
UPS:600元/样
 
测试仪器
仪器名称:X射线光电子能谱仪

仪器型号:Thermo escalab 250Xi

生产厂家:
Thermo fisher

赛默飞 EscaLab 250Xi X射线光电子能谱仪以X射线光电子能谱为主要功能,还带有俄歇电子能谱、紫外光电子能谱、反射电子能量损失谱及离子散射谱等附件功能。

 
仪器技术参数 1)     180ο半球能量分析器

2)     能量范围:0~5,000eV

3)     单色Al Ka (hv =1486.6 eV),功率150W ;结合能以C1s 284.8校准

4)     X射线束斑面积从900μm到200μm连续可调

5)     大束斑:Ag3d5/2(FWHM=0.50eV)强度≥400kcps;20µm束斑 :Ag3d5/2(FWHM=0.45eV)强度≥0.5kcps;

6)     Mg/Al双阳极XPS                       

7)     大束斑:Ag3d5/2(FWHM=0.8eV)强度大于650kcps

8)     快速平行成像

9)     对Ag3d5/2线扫描的最佳空间分辨率优于3 μm
主要功能特点

1.  常规XPS,鉴别样品表面的元素种类、化学价态以及相对含量。双阳极XPS,更适合用于不同的特殊过渡金属元素的研究,如催化领域。

2.  微区XPS分析(单色化XPS),用于样品微区(>20μm)表面成分分析,高能量分辨的化学态分析

3.  深度剖析XPS,结合离子刻蚀技术对样品(如薄膜等)进行成分深度分布分析。通过角分辨XPS还可以进行非损伤成分深度分布分析。

4.  XPS成像,可以对元素或化学态进行表面面分布分析,使一些分析结果更直观。

5.  反射电子能量损失谱REELS技术,可实现氢元素的检测。

6.  离子能量损失谱ISS,可实现样品表面元素信息的检测

7.  场发射俄歇AES,可实现样品表面100nm尺寸下的元素信息检测。可以进行成分分析、形貌像分析及扫描俄歇像分析等。

8.  紫外光电子能谱(UPS),可以获得样品价带谱信息,对导体、半导体的带、带隙等分析提供主要数据。还可以分析样品逸出功等。

 


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